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奥林巴斯CIX100清洁度显微镜

奥林巴斯CIX100检测系统是一个专门的交钥匙解决方案,适用于对所制造部件清洁度保持高质量标准要求的制造商。快速获取、处理和记录技术清洁度检测数据,以符合公司和国际标准的要求。该系统直观的软件可指导用户完成该过程的每个步骤,因此,即使是新手操作员,也可以快速轻松地获取清洁度数据。

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资源

CIX100宣传册-中文
CIX100宣传册-英文

奥林巴斯CIX100检测系统:简化技术清洁度

保证部件、工件和流体具有合格的清洁度是制造过程的核心所在。在对大多为微米级尺寸的污染物和异物进行计数、分析和分类的过程中达到高标准,对于产品的开发、制造、生产和质量控制等各种工作流程都至关重要。各种国际和国家指令对于如何确定基本加工零件上颗粒污染的方法和记录要求都有描述,因为颗粒污染会直接影响工件和部件的使用寿命。目前的标准要求提供有关污染性质的详细信息,如颗粒的数量、粒度分布和颗粒特性。

奥林巴斯CIX100清洁度检测系统旨在满足现代工业以及国家和国际指令对清洁度的要求。

标准的清洁度检测流程

标准的清洁度检测流程:准备(第1-3步)和检测(第4-6步)。第1步:提取,第2步:过滤,第3步:称重,第4步:检测,第5步:审核,第6步:结果。

 

简单、可靠

简单、可靠

硬件和软件无缝集成,打造出一款可以提供可靠、准确数据的耐用型高效率系统。

  • 易于设置的自动化、交钥匙解决方案
  • 稳定的测量系统设置有利于提供可重复的结果
  • 卓越的光学性能和可再现的成像条件
  • 自动化系统通过集成的校准装置进行自检
  • 全系统集成,实现所有硬件部件的自动化控制
  • 支持各种圆形和矩形样品架

 

通过直观的指导提高生产力

通过直观的指导提高生产力

  • 专用、简单的工作流程可大限度地减少用户操作,并提供可靠的数据 - 与操作员和经验水平无关
  • 借助便于使用的工具轻松修改检测数据
  • 分步指导可提高生产率,并缩短检测时间
  • 用户权限管理可限制功能,以尽量减少人为错误
  • 触摸屏显示大尺寸按钮,容易点击
  • 符合要求的一键式报告,实现高效的文件记录
  • 所有数据均自动保存,并可轻松导出和共享
  • 采用可选材料分析解决方案的独立显微镜模式

 

快速实时分析

快速实时分析

创新的一体化扫描解决方案检测反光(金属)和非反光颗粒的速度是需要两幅独立图像的传统方法的两倍。

即时反馈颗粒计数和颗粒分类的信息可帮助您快速做出决策。

  • 用于快速识别滤膜范围、颗粒簇或差粒子的概览图像
  • 对2.5 µm至42 mm范围内的污染物颗粒进行自动实时处理和分类
  • 高效:系统在一次扫描中检测反光和非反光颗粒
  • 实时分析使您能对结果做出实时反应
  • 可根据选定的行业标准定制符合要求的结果

 

有效的数据评估

有效的数据评估

借助强大的、易于使用的工具修改检测数据,支持公司和国际清洁度检测标准。

清晰呈现所有相关的检测结果,节省时间。

  • 图像和数据的有组织排列,使数据审核效率更高
  • 可选择各种视图,立即识别颗粒
  • 颗粒位置和缩略图链接到实时图像
  • 轻松地对检测数据进行重新分类、审核、修改和重新计算
  • 实时显示整体清洁度代码、颗粒和分类表
  • 趋势分析,以确定随时间推移而出现的潜在的测量偏差
  • 在一个视图中显示完整的检测数据

 

创建合规报告

创建合规报告

一键式报告制作方式符合国际标准中阐述的要求和方法。报告可以定制(例如,包括颗粒形态),从而可轻松满足不同公司的特定标准。

  • 使用预定义的合规模板生成专业报告
  • 可轻松调整模板和报告,以满足行业和公司的规定
  • 支持各种输出格式,包括MS Word和PDF
  • 报告文件大小经过优化,轻松进行结果共享
  • 长期数据存储,使您可以在多年后证明决策的合理性

 

可靠的交钥匙系统解决方案:
自动化操作、准确的结果,助力实现高水平的可再现性

奥林巴斯CIX100系统是一个整体解决方案,目的是满足用户对自动化清洁度检测的需求。每个组件都经过优化,以确保准确性、可再现性、可重复性和无缝集成特性,使这款高效率系统提供可靠的数据。该系统为圆形和矩形样品区的快速检测提供了出色的光学性能。关键任务的自动化有助于加快检测速度,同时还可尽量减少人为错误和样品污染的风险。

自动化操作、准确的结果,助力实现高水平的可再现性

1.可再现的成像条件(摄像头盖)
通过保护摄像头对准,防止意外错位,从而实现至高的可再现性。
2.创新的偏振法(探测单元)
在单次扫描中探测到反光颗粒(金属)和非反光颗粒。
3.经过验证的耐用性(载物台/载物台插槽)可再现的测量条件
自动调焦驱动功能有助于确保具有可再现性的定位,以便对探测到的污染物直接进行再次分析。载物台的插槽为滤膜保留了一个固定的位置,还有一个附加的插槽,用于放置集成型校准工具或第二个样品。
4.出色的光学质量(显微镜)
著名的奥林巴斯UIS2物镜和高分辨率摄像头共同实现出色的图像质量和准确的测量。
5.使用方便(软件)
易于使用的软件可指导用户完成整个检测过程,有助于提高生产力和减少错误。界面上显示有较大的按钮,使用鼠标点击或手指轻触可以轻松选择这些按钮。
6.高性能(工作站)
在扫描样品的同时,系统通过对分类和计数的污染物加以颜色变化来提供直接的视觉反馈。此外,当超过限度时,系统还可以发出声音警告信号。

 

样品架使系统具有更高的通用性

CIX100系统支持各种具有圆形或矩形检测区域的样品架。这包括用于直径为25 mm、47 mm和55 mm的滤膜的白底或黑底支架;用于胶带提取法采样的支架;用于冶金应用的平面支架;以及用于颗粒捕集器的支架。

白底和黑底圆形样品架,用于直径为25 mm(左)、47 mm(中)和55 mm(右)的滤膜。

白底和黑底圆形样品架,用于直径为25 mm(左)、47 mm(中)和55 mm(右)的滤膜。

 

用于颗粒捕集器的样品架

用于颗粒捕集器的样品架

用于胶带提取法采样的样品架

 

批量扫描后直接审核多个样品

CIX100系统提供了一个批处理模式,用于一次检测多个样品。可以对扫描进行类似的检测配置,也可以对每个样品进行单独设置。检测结束后,可以分别审核每个样品的结果并生成报告。

可再现性和可重复性

可再现性和可重复性

清洁度检测的工作流程非常简单,因此即使是没有经验的操作人员也可以获得准确、可重复的结果。预先配置和预先校准的系统、用户权限管理和定期系统自检有助于确保设置正确,并在不受操作人员和系统的影响下获得可再现性检测数据。因此,多个部门和站点可以在不同地点应用相同的质量标准。

图中通过使用过程性能指数(Ppk)验证测量的稳定性和可重复性,说明了CIX100的精度。在5X和10X放大倍率下对同一样品进行10次测量,并根据常规大小等级提取颗粒计数。图中显示了对E级(50-100 μm)Cpk和Ppk的评估。

 

出色的光学质量

出色的光学质量

奥林巴斯UIS2物镜实现了很高的光学性能,可实现出色的测量和分析准确度。其专用的光源可以保持为清洁度检测而优化的一致色温。

 

经过优化的可再现性

经过优化的可再现性

预先配置和预先校准系统具有通知系统进行自动自检的提醒功能,集成校准片有助于保持系统的定期验证。

 

稳定的测量系统

安全设置

光路对准、电动物镜转换器和摄像头都有盖子保护,可防止意外改装。为了保证稳定性,已去除光路中的所有活动部件。

 

通过直观的指导提高生产力

通过直观的指导提高生产力

奥林巴斯CIX100系统可在整个检测过程中持续发挥高水平的检测性能和工作效率,可使各种经验水平的操作人员轻松完成技术清洁度检测。系统软件为整个清洁度检测过程提供分步指导。直观的工作流程和用户权限管理提高了工作效率,并使操作人员对检测结果充满信心,同时还缩短了检测周期,降低了每次检测的成本,减少了人为失误。因此可以说,这是一款经过优化,可达到严格质量标准的系统。

结构清晰的用户界面不仅使清洁度检查具有可重复性和再现性,而且对于专家和非专家来说,都很方便。

 

分步工作流程

分步工作流程

直观的工作流程将检测过程分为三个简单的步骤,指导用户完成检测:检测样品、审核结果和创建报告。从扫描样品到创建符合要求的报告,大程度的自动化提高了每个步骤的易用性,因此,各种经验水平的用户都可以进行高效的检测并生成可靠的数据。

界面上直观的说明将引导操作人员逐步完成整个检测过程。这是一个快速、高效的工作流程。

 

预先配置、预先校准的系统

各种经验水平的用户都可轻松操作

预先配置、预先校准的系统配有直观的用户界面,可帮助各种经验水平的操作人员轻松完成清洁度检测。

系统会提醒定期进行自动系统检查,从而获得精确的结果;而预先配置和自定义的系统配置支持操作人员的日常使用。

 

高级显微镜

显微镜模式可使您退出专门的清洁度检测工作流程,进行显微成像。通过选配不同的材料分析解决方案,可以增加显微镜模式的功能,如晶粒截点法、晶粒平面法、铸铁、夹杂物评定至恶劣视场法、层厚度、枝晶臂间距、物相分析、孔隙率和涂层厚度。

高级显微镜

存储和共享

存储和共享

 

所有的数据都会自动保存。用户可以快速访问所有已归档的样品及其相关的数据和报告,以进行审核或分发。

 

管理工具

管理员可以控制哪些用户可以访问系统的哪些部分的权限。这样,缺乏经验的用户就只能执行分配给他们的任务。重要的是,他们不会影响关键参数,如校准参数和为自动生成报告而选择的数据。

管理工具
管理员可以访问整个系统设置(上图),而没有经验的用户仅限于访问基本的工作流程(下图)。

 

触摸屏支持

触摸屏支持

通过触摸技术实现高性能

界面上显示有较大的按钮,使用鼠标点击或手指轻触可以轻松选择这些按钮。

 

检测配置

检测配置

检测配置用于指定样品检测的所有参数,包括颗粒表征、设置颗粒种类和类型的规则。

CIX100系统在交付时已经进行过配置和校准,但您可以根据您的应用和要求轻松进行对其进行修改和自定义。

 

快速完成实时分析和审核
所有相关数据显示在同一个页面中

快速完成实时分析和审核 所有相关数据显示在同一个页面中

奥林巴斯CIX100系统采用了已获专利的*偏振方法,可在单次扫描中对大小从2.5 μm至42 mm的反光颗粒和非反光颗粒同时进行高性能图像采集和精确的实时分析。使用这种一体化扫描解决方案,完成扫描的速度比传统方法(Inspector系列)提高了一倍。在扫描的同时,实时显示计数和分类的颗粒,并将颗粒按大小分级,有助于即时做出决策,并在检测失败的情况下迅速采取补救措施。

在检测过程中,所有相关数据在单个屏幕上实时显示,使操作人员能够在测试失败时停止或中断检测。

 

在单次扫描中捕获数据

一种基于波长分离和颜色的创新型偏振方法,可在单次扫描中探测到反光颗粒(金属)和非反光颗粒。这种集成到显微镜架中的高效率设计,可将扫描的速度提高到传统方式(Inspector系列)的两倍,而且还消除了光路中的活动部件,例如可能会对系统稳定性产生负面影响并导致出现潜在错误结果的偏光镜。这种一体化扫描技术增加了被测颗粒的数量,降低了每次检测的成本,还可在检测失败时使检测人员立即采取应对措施。

1:经典方法,2:单次扫描方法 (1-1:非反光颗粒的第一幅图像,1-2:反光颗粒的第二幅图像,2: 单次扫描解决方案:组合) 一种创新型偏振方法,可在单次扫描中探测到反光颗粒(金属)和非反光颗粒。
1:经典方法,2:单次扫描方法
(1-1:非反光颗粒的第一幅图像,1-2:反光颗粒的第二幅图像,2: 单次扫描解决方案:组合)
一种创新型偏振方法,可在单次扫描中探测到反光颗粒(金属)和非反光颗粒。

 

以真彩色审核颗粒

激活真彩色模式可使用户以其实际颜色查看颗粒,同时提供其他信息,以将颗粒类型标识为金属或非金属。

一体化扫描在偏振中将所有反光颗粒显示为蓝色,表明这些颗粒是金属颗粒。在真彩色模式下,将忽略反光颗粒的蓝色,而所有颗粒的真实颜色将显示在明场图像中。实际上是蓝色的材料仍然是蓝色的,而金属则显示其金属光泽和该材料的典型反射。

通过这些有用的视觉效果,用户可以更好地了解每个颗粒的性质,并快速确认颗粒类型。

系统在探测和分析过程中看到的颗粒。蓝色表示该颗粒是金属。 系统在探测和分析过程中看到的颗粒。蓝色表示该颗粒是金属。
使用U-ANT滤膜和颜色校正模式,以真彩色显示在审核模式期间看到的颗粒。确认颗粒的性质。 使用U-ANT滤膜和颜色校正模式,以真彩色显示在审核模式期间看到的相同颗粒。证实颗粒为金属颗粒。

 

快速识别

快速识别

在开始检测样品时创建样品概览图像,以低倍率显示整个滤膜。概览图像有助于在开始检测样品之前,识别滤膜的覆盖范围或颗粒簇。

概览图像有助于评估滤膜范围、颗粒簇或差颗粒,使用户可以在检测开始前迅速应对。

 

样品信息概览

样品信息概览

用于指定样品检测的所有参数的检测配置。

样品信息区中列出了重要的数据。

 

实时分析,获得实时结果

实时分析,获得实时结果

污染物被自动分析,然后分类到由所选标准定义的大小等级栏中,并用颜色编码,以清楚地表明哪个大小等级的颗粒超出了预先定义的极限。系统提供一个统计控制图表功能,可以图表方式直观地表明颗粒等级的合规水平,以提高检测结果的可靠性。

为每个大小等级预先定义的可接受颗粒计数显示在屏幕上,因此甚至在完成整个滤膜的扫描之前,就可以做出合格(OK)或不合格(NOK)的验证评判。当评判结果为不合格(NOK)或检测结束时,声音信号会启动。

 

检测暗颗粒、亮颗粒、小颗粒和大颗粒

检测暗颗粒、亮颗粒、小颗粒和大颗粒

根据国际标准,对小颗粒和大颗粒进行实时处理和分类(2.5 µm至42 mm)。

图像拼接可自动重建大颗粒的图像。

在明亮的背景上扫描暗颗粒,或者反过来。

 

时间信息

时间信息

 

明确查看样品采集的剩余时间。

 

灵活完成评估和修改

灵活完成评估和修改

所有颗粒和分类表、整体清洁度代码、颗粒位置和使用的标准均显示在一个视图中。

奥林巴斯CIX100系统配备了各种强大、易于使用的工具,可在提供指导的快速颗粒审核过程中修改检测数据。一键式重新分类功能具有很大的灵活性,并支持国际标准。系统探测到的每个污染物的缩略图都与相应的维度测量值链接起来,方便了对数据的审核。检索污染物的信息非常简单。在审核过程中,结果会自动更新并显示在所有视图和按大小分类的分类栏中。这样既可以清晰显示所有相关的检测结果,又节省了时间。

 

用于直接识别的深度数据洞察力

不同颗粒视图的可视化,例如:最大的反光颗粒或非反光颗粒

不同颗粒视图的可视化,例如:反光颗粒或非反光颗粒

图像、数据和结果的清晰排列,以便立即做出再处理决策。在可选择的各种视图中,完整的检查数据一目了然。查看所有种类的颗粒(反光或非反光)的图像,从大到小排列。

 

修改检测数据

修改检测数据

根据存储的颗粒位置信息,载物台直接在选定的颗粒位置上重新定位,以进行进一步的研究和修改,例如使用景深扩展成像(全焦图像,EFI)或为高度测量定制的解决方案。

 

趋势分析

趋势分析

可以随时间推移进行数据统计分析,并以图形方式显示。

 

颗粒快照文档

颗粒快照文档

可以为污染物拍摄单张图像,并进行处理,以进行手动测量确认并改进文档。

 

轻松审核数据

轻松审核数据

查看所有种类的颗粒(反光或非反光)的图像,从大到小排列。

污染物的缩略图图像可以方便地与其位置和尺寸关联。选择某个缩略图会使系统自动转到相关的污染物。

 

可信的结果

分类和颗粒表根据所选标准列出结果。

分类和颗粒表根据所选标准列出结果。

分类和颗粒表分别根据所选标准和颗粒数据显示结果。

 

支持标准

根据汽车和航空航天行业使用的所有主要国际标准进行评估,包括:

ASTM E1216-11:2016
ISO 4406:2021
ISO 4407:1999
ISO 4407:2002 [累积和差分]
ISO 11218:1993
ISO 12345:2013
ISO 14952:2003
ISO 16232-10:2007(A、N和V)
ISO 16232:2018(A、N和V)
ISO 21018:2008
DIN 51455:2015 [70%和85%]
NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986
NF E 48-655:1989
SAE AS4059:2011
VDA 19.1:2015(A、N和V)
VDA 19.2:2015

 

直接反馈

直接反馈
根据所选标准计算并显示总体分类结果。

根据所选标准,即时计算和显示总体分类污染等级代码(CCC)。

 

精确符合

精确符合

不同的清洁度代码

只需单击一下,即可根据所有标准重新计算结果。

 

快速和简单:审核、修改和重新计算

操作人员可以轻松修改自己的检测数据。强大的软件工具,如删除、分割和合并,使修改数据变得简单。

快速和简单:审核、修改和重新计算

 

高度测量解决方案

高度测量解决方案

CIX100系统的景深扩展成像(EFI)功能可采集高度超出物镜焦深的样品的图像,并将这些图像堆叠在一起,创建全焦图像。由1个20X物镜和特殊软件组成的高度测量解决方案,进一步增强了系统的性能,可满足VDA 19对高度测量的要求。对于选定的颗粒,可通过自动或手动方式进行高度测量。在结果表中,计算出的高度值作为附加数据项列出。

 

定义公司标准

根据汽车和航空航天行业使用的所有主要国际标准进行评估。公司还可以灵活制定自己的评估标准。

 

高效的报告创建

符合国际标准的报告。

符合国际标准的报告。

智能、成熟的报告工具可轻松实现检测结果的一键式数字记录。报告制作基于符合行业标准的预定义模板,还可轻松修改,以满足用户公司的需求。可将结果导出到Microsoft Word文件中,也可直接导出为PDF文件,以便通过电子邮件轻松共享数据。报告模板和数据共享工具可帮助缺乏经验的操作人员快速创建和分发准确、专业的文件。奥林巴斯CIX100系统还可以对报告和数据进行存档,以进行记录保存和趋势分析。

 

通过预定义模板实现完全直观的效果

 

通过预定义模板实现完全直观的效果

报告制作基于符合行业标准的预定义模板,还可轻松修改,以满足用户公司的需求。

 

高效且简单

分析报告依从分析过程中使用的标准。

分析报告依从分析过程中使用的标准。

根据分析过程中使用的标准,显示可用的模板列表,即使是没有经验的操作人员也能快速创建符合标准的报告。

 

轻松导出数据

该软件支持MS Word、PDF或Excel等输出格式。

该软件支持MS Word、PDF或Excel等输出格式。

导出报告易如点击鼠标。根据您的偏好,以Microsoft Word或PDF格式创建报告,并将颗粒和分类结果以及趋势分析轻松导出到Microsoft Excel。报告文件大小经过优化,可实现高效数据共享。

 

长期数据存储

 

长期数据存储

快速访问所有已归档的样品及其相关的数据和报告,以进行审核或分发。所有检测数据和报告都会自动保存,并在一定时间内存档。

在多年后证明决策合理性的能力。

 

样品信息区

报告的信息页

报告的信息页

报告的这一区域包含样品的信息,如客户、检验员、订单号和检验日期。所有数据都是自动插入的。

 

分类表

由于扫描过程中检测到的最大颗粒是非常重要的,因此本报告部分列出了检测过程中发现的十个最大颗粒。

由于扫描过程中检测到的大颗粒是非常重要的,

因此本报告部分列出了检测过程中发现的十个大颗粒。

报告的这一部分包含了根据所用标准在检测过程中计算的数据,并显示了诸如尺寸等级和范围信息,以及检测到的颗粒绝对数量和污染等级等信息。

 

大颗粒的图像

显示最大颗粒图像的结果页

显示大颗粒图像的结果页

大颗粒的缩略图与颗粒参数和颗粒等级一起显示。缩略图还显示了通过将较小图像拼接在一起而重建的污染物图像。

硬件

显微镜 奥林巴斯CIX100 电动聚焦
  • 同轴电动精细聚焦,使用3轴操纵杆
  • 聚焦行程:25 mm
  • 精细行程:100 µm/周
  • 载物台托架的最大安装高度:40 mm
  • 聚焦速度:200 µm/s
  • 可启用软件自动聚焦功能
  • 自定义的多点聚焦图
照明
  • 内置LED照明灯
  • 创新型照明机制,可同时探测到反光颗粒和非反光颗粒
  • 光照强度可由软件控制
成像设备
  • 彩色CMOS USB 3.0摄像头
  • 芯片上的像素尺寸为2.2 µm × 2.2 µm
样品量
  • • 标准样品是一个直径为47 mm的滤膜。可为直径为25 mm或55 mm的滤膜提供托架,还可提供定制样品托架。
物镜转换器 电动式 电动物镜转换器
  • 6孔电动物镜转盘,已安装了3个UIS2物镜
  • PLAPON 1.25X,用于预览
  • MPLFLN 5X,用于探测大于10 µm的颗粒
  • MPLFLN 10X,用于探测大于2.5 µm的颗粒
由软件控制
  • 图像放大倍率,以及像素与尺寸之间的关系可清晰显示
  • 测量时可选定物镜,软件可自动进行物镜定位
载物台 电动X、Y轴载物台 电动X、Y轴载物台
  • 步进电机控制运动
  • 最大范围:130 × 79 mm
  • 最大移动速度:240 mm/s(4 mm滚珠螺距)
  • 可重复性:< 1 µm
  • 分辨率:0.01 µm
  • 可通过3轴操纵杆控制
由软件控制
  • 扫描速度取决于所使用的放大倍率,使用10x放大倍率时,扫描时间不到10分钟
  • 载物台对齐校准由工厂在装配时完成。
标本架 样品架
  • 滤膜托架经过专门设计,可避免在安装过程中滤膜发生意外转动
  • 滤膜托架通过机械方式将滤膜压平
  • 无需工具即可固定盖子
  • 用于直径为25 mm、47 mm和55 mm的滤膜的样品托架
  • 用于颗粒捕集器、颗粒捕集器耗材和胶带提取法采样的样品托架
颗粒物标准片(PSD)
  • 用于验证系统测量准确性的参考样品
  • 核查系统内置功能的样品,用于对CIX系统的正常功能进行控制
  • PSD只能使用载物台上的第2个插槽
载物台插槽 2位载物台插槽
  • 载物台插槽专用于正确定位样品托架和PSD
控制器 工作站 高性能预安装工作站
  • HP Z4G4,Windows 10-64位专业版(英文版)
  • 16 GB RAM、256 GB SSD和4 TB数据存储
  • 2 GB视频适配器
  • 已安装Microsoft Office 2019(英文版)
  • 网络功能、英文全键盘、1000 dpi的光电鼠标
插件板
  • 电动控制器、RS232串行和USB 3.0
语言选择
  • 操作系统和Microsoft Office的默认语言可由用户更改
触摸显示屏 23英寸纤薄屏幕
  • 分辨率:11920 × 1080,为配合CIX软件使用而优化
电源 额定值
  • AC适配器(2个)、控制器和显微镜架(需要4个插头)
  • 输入:100-240V AC 50/60Hz,10 A
功耗
  • 控制器:700 W;显示器:56 W;显微镜:5.8 W;控制盒:7.4 W
  • 总计:769.2 W
图纸 尺寸(宽 × 厚 × 高) 约1300 mm × 800 mm × 510 mm
重量 44 kg

系统对环境的要求

常规使用 温度 10 °C ~ 35 °C
湿度 30% ~ 80%
根据安全法规 环境 室内使用
温度 5 ℃至40 ℃
湿度
  • 最大80%(温度不高于31 °C时)
    (无冷凝)
  • 当温度上升到31 °C以上时,适用的湿度会呈线性下降
  • 70%(34 °C)至60%(37 °C)至50%(40 °C)
海拔高度 最高2,000米
水平度 最高为±2°
电源和电压稳定性 ±10%
污染等级(IEC60664) 2
总体电压类别(IEC60664) II类

软件

软件 CIX-ASW-V1.5
  • 技术清洁度检测的专用工作流程软件
语言 图形用户界面
  • 图形用户界面:英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语
在线帮助
  • 在线帮助:英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语
许可证管理
  • 软件许可证通过许可证卡片激活(安装时已激活)
用户管理
  • 系统可以连接到网络进行域管理
  • 可用功能范围根据经过身份验证的用户而选择。
实时图像 以彩色模式显示
  • 金属颗粒用蓝色分析,非金属颗粒用原色分析。
窗口适应法
  • 图像总是以全视图形式显示
实时探测
  • 颗粒一经捕获就会探测出来,以提高速度
  • 如果测量结果不理想,用户可以中止探测过程。
实时分类
  • 探测到颗粒后,立即对颗粒进行分类。
  • 在实时采集过程中,可在用户界面上识别颗粒所属的大小等级。
显微镜模式
  • 可以进入显微镜模式进行显微成像。
  • 提供可选配的材料分析解决方案(不是标配)。
图像捕获和手动测量 收集用户快照
  • 不仅可在实时观察模式下(从实时图像)或样品查看模式下(从记录的数据)捕获图像,也可以在审核模式下,捕获样品上任何位置的单个图像
  • 可使用1000 × 1000像素的标准分辨率,将图像存储为.tif、.jpg或.png文件
  • 快照可以与探测到的颗粒相关联,并在之后的分析报告中使用
  • 颗粒快照可以在景深扩展成像(EFI)模式下自动获取
  • 在EFI模式下获取的图像可用在分析报告中
手动测量
  • 可以在获得的快照上对任意距离进行测量
  • 可为任意测量项目重新命名,可以对颜色进行重新着色
  • 任意测量值和刻度线在存储时都会被刻录在图像中
硬件控制 XY电动载物台
  • 操纵杆操作和由软件控制
  • 检测圆形和矩形的样品区域
  • 在所选颗粒上以自动或手动方式重新定位
电动物镜转换器
  • 仅可通过软件选择
电动聚焦
  • 通过操纵杆控制
  • 提供软件自动聚焦功能
  • 使用多点聚焦图进行预测性自动对焦
检查系统 系统验证
  • 通过测量颗粒物标准片的参数对系统进行验证。
  • 生成OK(合格)或NOK(不合格)的质量判定结果
可选物镜
  • 对系统的检查只能使用工作物镜完成(至少应选择一个物镜)
  • 可以使用5X或10X物镜,或使用这两种物镜对系统进行检查
技术清洁度标准 支持标准
  • ASTM E1216-11:2016、ISO 4406:2021、ISO 4407:1999、ISO 4407:2002 [累积和差分]、ISO 11218:1993、ISO 12345:2013、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007(A、N和V)、ISO 16232:2018(A、N和V)、ISO 21018:2008、DIN 51455:2015 [70%和85%]、NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2011、VDA 19.1:2015(A、N和V)、VDA 19.2:2015、VDI 2083-21
精确符合VDA19:2016的建议
  • 阈值自动设置为VDA建议使用的值
颗粒种类识别
  • 颗粒可按颗粒种类分类(纤维、反光、反光纤维或其他)
自定义标准
  • 用户可以非常容易地自行定义标准
  • 根据DT 55-83,颗粒测量参数包括丝状粒径和致密粒径
检测配置
  • 该系统可使用户加载、定义、复制、重命名、删除和保存检测配置
  • 还可以存储和调用标准和报告模板
  • 可以反转探测阈值,以探测到暗背景上的亮颗粒
  • 可以在一个序列中采集多个样品
  • 每个样品都可以使用特定的配置进行检测
颗粒平铺视图 以平铺形式显示探测到的颗粒,提高了导航效率
  • 双击平铺视图可以检索每个颗粒的位置
  • 每个平铺视窗都与实际颗粒大小相适应
保存完整的滤膜 存储完整的滤膜
  • 离线分析可使用户选择不同的标准来显示结果
数据导出 保存数据
  • 检测数据可被导出到Excel(.xlsx)表格中
  • 软件中所有可用的表格也可以导出到Excel中
趋势分析 多个样品的趋势分析(内置SQC工具)
  • 可以按大小等级显示数据
  • 可以按时间、样品、测量ID将数据绘制成图
  • 可以选择比例(对数-正态,对数-对数)
  • 数据点可被提取并导出到电子数据表格中
  • 可以使用Q-DAS(.dfq)格式导出表格;软件中的所有表格也可以导出到Excel中
颗粒编辑 可在修改过程中对颗粒进行编辑。 可进行以下操作:
  • 使用直线或折线添加、删除、合并或拆分颗粒
  • 更改颗粒类型
动态报告 可通过使用Microsoft Word 2019制作专业分析报告
  • 模板是可自定义的
  • 用户在选择不同的颗粒种类时,可以选择将图片放在表格后面,或者将所有图片放在一起

可选配解决方案CIX-S-HM

高度测量 对选定颗粒进行自动或手动高度测量
  • 可选配的软件解决方案,可以使电动聚焦驱动功能对所选颗粒自上到下自动聚焦。然后通过计算颗粒在Z轴上顶部和底部相差的距离得出颗粒的高度。
  • 包含1个附加物镜(20X MPLFLN)和一个需要在安装时激活的许可证卡片。
  • 可以在多个位置选择多个颗粒进行自动高度测量。

环境法律和法规

欧洲 低电压指令2014/35/EU
EMC指令2014/30/EU
RoHS指令2011/65/EU
REACH法规,编号1907/2006
包装和包装废弃物指令94/62/EC
欧盟WEEE指令2012/19/EU
机械指令2006/42/EC
美国 UL 61010-1:2010,第3版
FCC 47 CFR,第15部分,分项B
加拿大 CAN/CSA-C22.2(No.61010-1-12)
澳大利亚 1992年无线电通信法、1997年电信法
节能条例AS/NZS 4665-2005
日本 电器和材料安全法(PSE)
韩国 电器安全控制法
关于能效标签和标准的条例
关于EMC和无线通信的条例(第2913-5号通知)
中国 中国RoHS
中国PL法
有关手册的条例

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